1. <noscript id="2fhks"><blockquote id="2fhks"></blockquote></noscript>
  2. <cite id="2fhks"><delect id="2fhks"></delect></cite>
      <span id="2fhks"><blockquote id="2fhks"></blockquote></span>
          <tbody id="2fhks"></tbody>
          欢迎来到北京中显恒业仪器仪表有限公司,我们是以光学显微镜为主的进口科学仪器提供商。
          产品分类Product categories
          <
          首页 > 技术文章 > 原子力显微镜基本原理
          原子力显微镜基本原理
            原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁与斯坦福大学的Calvin Quate于一九八五年所发明的,其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜(SPM)的观测方法。原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)zui大的差别在于并非利用电子隧穿效应,而是检测原子之间的接触,原子键合,范德瓦耳斯力或卡西米尔效应等来呈现样品的表面特性。
            优点
            
          原子力显微镜观察到的图像
            相对于扫描电子显微镜,原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像,AFM提供真正的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳,这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三,电子显微镜需要运行在高真空条件下,原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,甚至活的生物组织。
            缺点
            和扫描电子显微镜(SEM)相比,AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢,受探头的影响太大。原子力显微镜(Atomic Force Microscope)是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵;现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中,成为纳米科学研究的基本工具。原子力显微镜与扫描隧道显微镜相比,由于能观测非导电样品,因此具有更为广泛的适用性。当前在科学研究和工业界广泛使用的扫描力显微镜(Scanning Force Microscope),其基础就是
          原子力显微镜

          地址:北京市昌平区吉晟别墅21-17

          北京中显恒业仪器仪表有限公司(www.bhbb.cc)主营:徕卡显微镜,徕卡金相显微镜,徕卡偏光显微镜,徕卡体视显微镜,徕卡工业显微镜等产品,欢迎前来我司选购!
          北京中显恒业仪器仪表有限公司 版权所有  ICP备案号:
          管理登陆  总流量:63320  网站地图 技术支持:中国化工仪器网

          在线客服
          用心服务 成就你我
          hooball互博国际
          扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
          访问手机站